반응형 펨트론1 HBM 수율 향상을 위한 검사장비 적용 확대 HBM의 수율 향상을 위해 검사장비의 역할이 더욱 중요해질 것입니다. 기존 메모리 업체들은 HBM 테스트 진행시 시간과 비용을 절약하기 위해 다이 레벨에서 샘플 조사(Sampling Inspection)를 진행한 것으로 파악하는데, 불량률을 최소화하기 위해서는 다이별 전수 조사(100% Inspection)가 요구될 것이며 패키징 이후 모듈 검사 영역 역 시 강화될 전망입니다. HBM용 검사장비 시장 확장에 주목해야 한다는 판단입니다. 한편 최근 검사장비 공급망 다각화를 위해 테스트 일부 단계에서 국산화 움직임이 포착되고 있어 국내 검사장비 업체 수혜가 기대됩니다. 눈여겨볼 종목으로는 인텍플러스(054290), 펨트론(168360)이 있습니다. 인텍플러스는 현재 주요 고객사 향으로 GDDR용 Advanc.. 2024. 3. 7. 이전 1 다음 반응형
